wumingqiang
2008-05-29 19:42
|只看楼主
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1. 主机常见故障
故障 | 可能的原因 | 故障排除 | | 1．仪器不工作
| A．电源不通电
B．保险丝烧坏
| A．检查电源
B．更换保险丝
| | 2．各部分温度不升
| A．加热器坏
B．触发板坏
C．保险丝坏
D．双向可控硅坏
E．温控电路板故障
| A．换加热器
B．换触发板
C．换保险丝
D．换双向可控硅
E．维修或更换
| | 3．各部分升温失控
| A．加热器对地短路
B．可控硅或触发板故障
C．温控电路板故障
| A．检查
B．更换
C．维修或更换
| | 4．各部分温度不正常
| A．铂电阻坏
B．温控电路板故障
C．接线端松动
| A．换铂电阻
B．维修或更换
C．拧紧接线端螺丝
| | 5．峰变宽
| A．载气流量低
B．柱温低
C．存在死体积
D．柱污染
E．柱选样错误
F．进样器或检测器温低
| A．增大流量
B．提高柱温
C．检查柱接头
D．更换或老化柱子
E．更换
F．升温
| | 6．峰变尖
| A．载气流量低
B．柱温高
C．柱污染
D．柱选样错误
| A．降低流量
B．降温
C．更换或老化柱子
D．更换
| | 7．峰拖尾
| A．进样量过大
B．柱选样错误
C汽化室污染．
| A．降低进样量
B．更换
C．清洗
| | 8．出现反常现象
| A．进样隔出现鬼峰
B．样品分解
C．柱污染
| A．老化隔垫
B．改变分析条件
C．更换或老化柱子
|
2．FID常见故障
故障 | 可能的原因 | 故障排除 | | 1．FID不能点火
| A．载气、氢气、空气流量不适
B．检测器温度低
C．喷嘴堵塞
D．氢气或空气泄漏
E．氢气或空气流路堵
| A．用流量计检查
B．升高温度
C．清洗或更换
D．检漏
E．检查
| | 2．不出峰
| A．火焰熄灭
B．喷嘴无高压
C．漏气
D．灵敏度太低
E．样品吸收
F．数据处理机的毛病
| A．重新点火
B．检查
C．检漏
D．检查灵敏度量程与样品量
E．换柱
F．检查数据处理机
| | 3．基线不稳
| A．供电电源波动
B．数据处理机的毛病
C．信号接头接触不良
D．漏气
E．检测器污染
F．管道污染
G．柱污染
H．汽化室污染
I．载气不纯
J．气路阀件毛病
K．FID电路板古故障
| A．用交流稳压器
B．检查数据处理机
C．重新连接信号接头
D．检漏
E．清洗检测器
F．清洗管道
G．更换或老化柱子
H．清洗汽化室
I．更换或过滤
J．更换阀件
K．维修或更换
| | 4．出现躁声
| A．供电电源波动
B．数据处理机的毛病
C．FID电路板故障
D．喷嘴污染
| A．用交流稳压气
B．检查数据处理机
C．维修或更换
D．更换或清洗
|
3．分析常见故障
故障 | 可能的原因 | 故障排除 | | 1．样品不能分离
| A．柱温太高
B．色谱柱太短
C．固定液流失
D．载气流速太高
E．进样技术差
| A．降低柱温
B．选择较长的色谱柱
C．更换或老化柱子
D．调整至适当值
E．重复进样，提高技术
| | 2．峰拖尾或前突
| A．进样量过大
B．柱选择错误
C．汽化室污染
D．汽化室和柱温箱温度不当
E．进样技术差
| A．减少进样量
B．重新选择色谱柱
C．清洗
D．重新设定适当值
E．重复进样，提高技术
| | 3．平顶峰
| A．样品量超出检测器线性范围
B．超出数据处理机测量范围
| A．减少样品量
B．改变衰减值或减少样品量
| | 4．怪峰
| A．前一次进样的流出物
B．进样垫的挥发或污染
C．样品分解
D．柱污染
| A．待所有组分流出后再进样
B．更换或老化进样垫
C．改变分析条件
D．更换或老化柱子
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信息来源：化学中国 |
本主题由 管理员 jiangpingyue 于 2009-6-23 15:34:18 执行 移动主题 操作
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